핵심 판정
Fab/cleanroom/bay/tool/chamber/lot와 전원·gas·chemical·vacuum·exhaust·UPW·PCW·AMHS dependency를 같은 사건 ID로 고정.
문제 증상과 관찰 가능한 이상
- 동일 장비명이 여러 bay·line에 존재해 사건 원본과 조치 대상이 섞인다.
- 전원 복귀·tool READY만 기록하고 chamber state·wafer lot·recipe·carrier 영향이 남지 않는다.
- 시설 utility alarm과 장비 alarm의 시각·source·quality가 일치하지 않는다.
- 생산·시설·장비·EHS·품질이 서로 다른 사건번호와 판단경계를 사용한다.
사용 경계와 한계
이 문서는 현장 자격·작업허가·LOTO·무전압 확인·법정검사·관할 승인·화학물질·가스·소방·cleanroom·OEM·책임 기술자의 판정을 대신하지 않습니다.
공개 표준의 범위와 공개 abstract를 기록 구조에 사용합니다. 구매가 필요한 표준의 세부 요구·수치·pass/fail은 정식 문서·계약·site specification으로 확인하며, 확인되지 않은 사고율·비용·효과·보편 합격수치를 만들지 않습니다.
작업 전 사전 수집 데이터와 asset/event identity
- site/building/level/cleanroom/bay/tool/chamber/load port와 tool ID·model·serial·software revision
- product/wafer lot/carrier/recipe/step·process state·hold/disposition owner
- normal/emergency power, grounding, UPS/control power와 gas/chemical/vacuum/exhaust/UPW/PCW/CDA/N2 service map
- BMS/FMCS/tool host/SECS-GEM/alarm/SOE/historian time source·quality·event ID
- 작업허가·LOTO·access class·chemical/gas permit·cleanroom gowning·관할 승인·책임자
판단 경계·필수 증거·적용 불가
| 판단 경계 | 식별 대상 | 필수 증거 | 단독 판정 금지 |
|---|---|---|---|
| Asset identity | Fab·building·bay·tool·chamber·load port | nameplate·layout·host ID·service tag | tool nickname만 |
| Event identity | 사건·alarm·trip·utility loss | UTC/local time·source·quality·raw event | 운전자 기억만 |
| Product identity | wafer lot·carrier·recipe·step | MES/host hold·actual chamber history | tool READY만 |
| Service identity | power·gas·chemical·vacuum·exhaust·UPW·PCW | P&ID/SLD·valve/breaker state·physical feedback | BMS summary만 |
즉시 작업중단·격리·판정 보류 조건
- 유해 gas/chemical·vacuum·stored energy·고전압·회전체 상태를 설명할 수 없다.
- 정확한 tool/chamber/lot/recipe·격리점·작업권한 없이 reset·bypass·purge를 시도한다.
- 연기·누출·이상 냄새·비정상 열·압력·배기상실·cleanroom evacuation 조건이 있다.
- time quality가 불명인 event를 원인순서로 확정하거나 lot release 근거로 사용한다.
중단 후 사람·구역·에너지·material/process 상태를 통제하고 raw evidence를 보존합니다. 승인범위를 넘는 조사·조작은 재승인 후 수행합니다.
4단계 판단 Gate
현장 기록표
| 사건 ID·시각 | Fab·Bay·자산 | 관찰 사실 | 전기·기계 | Facility service | Process·Lot | 원본·Time quality | 격리·허가 | 판정·시험 | 승인·As-left |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
판정등급·제한시험·단계복구·Rollback
| 판정 | 성립 조건 | 허용 조치 | 금지·Rollback 조건 |
|---|---|---|---|
| 즉시중단·접근금지 | 위험징후·상태 불명·권한 미성립 | 구역통제·격리·원본보존 | 원격표시로 해제 금지 |
| 판정 보류 | Identity·원본·조건·Time quality 누락 | 자료확보·범위 재승인 | Reset/Bypass/Lot release 금지 |
| 제한시험 | 위험통제·시험·중단·Rollback 승인 | 한 변수·Dummy/Test material | Production lot 무승인 시험 금지 |
| 복구후보 | 결함조치·기능시험·인계·전문승인 | 단계복구·관찰 | READY/Online만으로 완료 금지 |
8단계 측정·판단·증거 시간정렬
- 사건 ID와 지휘체계 확정
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다. - Fab·bay·tool·lot identity 고정
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다. - 변경 전 raw event·도면·recipe 원본 동결
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다. - 전기·기계·utility·process 증거 시간정렬
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다. - 가설별 범위와 중단조건 승인
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다. - 한 변수씩 제한 확인
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다. - lot/tool 단계복구와 관찰
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다. - as-left·hold/disposition 인계
사건 ID·조건·원본·권한·예상결과·중단/rollback을 함께 기록합니다.
설명용 시각자료
인계자료와 As-left 결과물
- exact bay/tool/chamber/load port·model/revision·service connection
- affected lot/carrier/recipe/step와 hold/disposition 상태
- 전기·utility·alarm·host/MES raw evidence와 time quality
- 변경/교체/청소/제염/setting 이전·최종값과 rollback
- 미검증·임시상태·제한운전·다음 확인·승인자
- 원인가설별 시험결과·배제 근거·적용조건
- 변경·교체·청소·제염·조정 이전/최종값·version·hash
- 정상·비정상·utility loss·재기동·rollback 원본
- 미결함·temporary state·lot hold/release·다음 점검·승인자
전문 검토 포인트
정확한 설비·공정·현장 원본과 적용기준을 확인합니다.
정확한 설비·공정·현장 원본과 적용기준을 확인합니다.
정확한 설비·공정·현장 원본과 적용기준을 확인합니다.
정확한 설비·공정·현장 원본과 적용기준을 확인합니다.
정확한 설비·공정·현장 원본과 적용기준을 확인합니다.
공식 1차 자료 상태
- SEMI S2 — Environmental, Health, and Safety Guideline for Semiconductor Manufacturing Equipment웹에서 공식 페이지 접근·SEMI S2-0724E — Current 확인 · 사용: 반도체 제조·계측·조립·시험 장비의 성능기반 EHS 고려사항과 장비별 적용범위 · 한계: SEMI 가이드가 모든 안전문제를 포괄하지 않으며 국내 법령·사업장 절차·실제 장비 위험성평가가 우선
- SEMI S22 — Safety Guideline for the Electrical Design of Semiconductor Manufacturing Equipment웹에서 공식 페이지 접근·SEMI S22-0718E — Current 확인 · 사용: 반도체 제조장비의 전기설계·감전·화재 위험과 전기/비전기 interlock 검토범위 · 한계: 설계 가이드이며 현장 배선·보호정정·법정검사·제품 인증을 대신하지 않음
- OSHA — Semiconductor Manufacturing Processes and Related Hazards웹에서 공식 페이지 접근·scope 확인 · 사용: 반도체 공정별 일반 위험·control 범위와 실제 공정 hazard inventory 필요성 · 한계: 미국 일반 안내이며 실제 공정은 fab마다 다르고 국내 산업안전·화학물질·소방 기준으로 확정해야 함
- NFPA 318 — Standard for the Protection of Semiconductor Fabrication Facilities공식 표준 개발 페이지 접근, 본문·edition 상세는 NFPA LiNK/정식 문서 수동 확인 필요 · 사용: 반도체 fabrication facility의 화재·관련 위험 보호 검토 후보 · 한계: 미국 표준이며 국내 소방·건축·화학물질·산업안전 기준과 관할 승인으로 확정해야 함
확인일: 2026-07-23. `OFFICIAL_SOURCE_STATUS_1332_1341.md`와 URL 상태 JSON에서 접근 확인과 수동 확인 필요를 분리합니다. 공개 abstract는 현장 합격값·법적 승인·OEM 절차를 대신하지 않습니다.