SV 패킷이 보이거나 IED 계측값이 그럴듯하다는 이유만으로 승인하지 않습니다. SCL·SVID·APPID·Dataset·샘플률을 고정하고 1차/2차 주입값과 SV 크기·위상·SmpCnt 연속성·품질비트·시간동기·보호동작을 끝단에서 교차합니다.
현장에서 보이는 문제
- IED에는 전류가 보이지만 상·중성점 매핑이 다르다.
- SmpCnt 점프와 프레임 누락이 간헐적으로 발생한다.
- 머징유닛 교체 뒤 SVID·APPID·Dataset이 SCL과 다르다.
- 시간품질이 저하되는데 위상차를 계측오차로만 해석한다.
작업 전 수집 데이터
- 변전소·Bay·MU·IED 모델/펌웨어·SCL 버전·단선도
- CT/VT·LPIT 비율·극성·상순·정격·아날로그 입력배선
- SVID·APPID·Dataset·MAC/VLAN·우선순위·샘플률
- SmpCnt·confRev·smpSynch·quality·time quality·PTP 상태
- 1차/2차 주입 전류·전압·위상·주파수·허용오차
- SV 크기/위상/RMS·프레임 누락·지연·지터·이중 스트림
- IED 구독값·보호요소·GOOSE/trip·SOE·COMTRADE
즉시 작업중단 조건
- 시험모드·실차단기·GOOSE/trip 차단이 합의되지 않았다.
- SCL·MU·IED·CT/VT 매핑을 식별하지 못했다.
- 동일 네트워크에서 중복 SVID·APPID·MAC 가능성이 있다.
- 시간동기 품질이 불명확한데 위상·동작시간을 판정한다.
- 프레임 누락·SmpCnt 점프가 반복되는데 보호시험을 계속한다.
- IED 계측만 보고 아날로그 입력부터 끝단 검증을 생략한다.
구역을 안전한 상태로 통제하고 증거를 보존한 뒤 책임자에게 범위와 조사계획을 다시 승인받습니다.
현장 기록표
수치에는 시각·운전·부하·환경·사용 도구를 붙이고 사실과 추정을 분리합니다.
| SCL·자산 | CT/VT·LPIT | SV식별자 | 샘플률 | SmpCnt | 품질·시간 | 크기·위상 | 누락·지연 | IED·trip | 복구·승인 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
판정기준과 적용 조건
즉시 중단
안전조건·자격·에너지 통제가 성립하지 않거나 위험징후가 있음
구역 통제·에너지 격리·책임자 보고 후 별도 계획 승인
판정 보류
모델·원본·부하·환경·시각·측정조건 중 핵심자료가 빠짐
설정 변경이나 부품 교체 전에 누락 자료를 다시 수집
계획 조치
같은 조건에서 이상이 반복되고 가설별 증거가 일치함
정확한 모델 문서와 현장 기준으로 변경·보수 범위를 승인
복구 확인
변경 후 정상·비정상·재기동 시험과 인계자료가 모두 확인됨
기준선을 보존하고 재발 감시조건·다음 점검일 지정
필수 데이터가 없거나 비교조건이 다르면 합격이 아니라 판정 보류입니다.
6단계 측정·판단 절차
- 범위와 안전조건 고정대상 설비·운전상태·작업허가·LOTO·중단조건과 승인자를 먼저 정합니다.
- 변경 전 원본 보존설정·로그·사진·파일·측정조건을 같은 사건 ID와 시각으로 저장합니다.
- 조건을 붙여 측정수치만 적지 않고 부하·환경·모델·계측기·위치·시각을 함께 기록합니다.
- 가설별 증거 분리전원·배선·설정·통신·기계·공정 등 가능한 원인을 한 번에 하나씩 비교합니다.
- 승인된 변경과 시험변경값·예상결과·롤백 조건을 승인한 뒤 정상·비정상·재기동 조건을 시험합니다.
- 결과·미결함 인계변경 전후 자료, 최종 설정, 시험결과, 미검증 항목, 다음 감시조건을 넘깁니다.
고급 기술검토 포인트
현장 적용 전 정확한 장비·회로·공정과 최신 법령·표준·제조사 문서를 기준으로 책임 기술자가 검토합니다.
판정기준 적용조건
- 정확한 모델·펌웨어·구성
- 부하·운전·환경·시각·계측조건
- 법령·표준·현장 절차의 적용 범위
전문 검토
- 전원·배선·설정·통신·기계·공정의 상호작용
- 안전·품질·생산·데이터 무결성 영향
- 임시 우회와 영구 원인조치의 구분
데이터 품질
- 변경 전후 원본·버전·해시·시각
- 사실·추정·권고·미검증 분리
- 시험마다 변경 변수 한 개씩 기록
외부 업체에 넘길 최소 자료
완료 후 받아야 할 결과물
- 변전소·Bay·MU·IED 모델/펌웨어·SCL 버전·단선도
- CT/VT·LPIT 비율·극성·상순·정격·아날로그 입력배선
- SVID·APPID·Dataset·MAC/VLAN·우선순위·샘플률
- SmpCnt·confRev·smpSynch·quality·time quality·PTP 상태
- 1차/2차 주입 전류·전압·위상·주파수·허용오차
- SV 크기/위상/RMS·프레임 누락·지연·지터·이중 스트림
- 원인가설별 시험 결과와 배제 근거
- 변경·교체·조정 항목과 이전/최종 값
- 정상·비정상·재기동 시험 원본
- 개정 도면·설정·백업·사진·로그
- 미결함·롤백 상태·다음 점검일
최종 승인 기록
| 구분 | 결과 | 미결함·제한 | 이름·확인 | 시각 |
|---|---|---|---|---|
| 작업책임자 | 완료 / 보류 | |||
| 기술검토 | 적합 / 보완 / 중단 | |||
| 생산·안전·품질 | 승인 / 보류 |
공식 근거
- OMICRON Protection Testing with Sampled Values - IEC 61850-9-2·IEC 61869-9 SV 발행과 SCL 기반 보호시험의 공식 자료
- OMICRON Merging Unit Testing - 아날로그 입력과 SV 출력·품질·시간동기를 비교하는 머징유닛 시험 공식 자료
공식 자료 확인일: 2026-07-21. 현장 적용 전 링크·개정·모델 범위를 다시 확인합니다.